非破坏性检测

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非破坏性检测

拥有先进水平的非破坏性分析设备,如各种高倍光学显微镜、X 射线系统及声学扫描显微镜等,实现对数量有限的被测样品进行快速的外观结构分析及缺陷定位。

1)样品的外观形貌及缺陷检测

2)隐藏焊点及焊点内部结构检测

3)器件内部缺陷的射线透射检测

4)器件封装缺陷的声学扫描显微检测

5)CT 计算机辅助断层扫描

斯柯得公司(SCOTEK)是一家具有CMA/CNAS认可资质的第三方专业检测机构,具备向社会出具公正性检测报告的资格,为客户提供全方位、一 站式的产品测试服务以及检测、认证、咨询及培训等技术服务。

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