根据元器件失效背景数据，制定破坏性物理分析方案，以失效机理研究为目的，找出器件失效的根本原因，以提高产品质量及规避损失。
1）元器件电性能失效定位
2）晶圆缺陷定位
3）器件封装缺陷定位
4）器件失效机理研究
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